測定顆粒大小的常用方法的比較
來源：
作者：
１．篩分 原理：依賴篩孔大小的機械分離作用。優點是簡單直觀。動態范圍較小，常用于大于４０μm的顆粒測定。 缺點：速度慢，一次只能測量一個篩余值，不足以反映粒度分布；微小篩孔制作困難；誤差大，通常達到10%-20%；小顆粒由于團聚作用通過篩孔困難；有人為誤差，導致可信度下降。
2．沉降 原理：斯托克斯定律。缺點：動態范圍窄；小粒子沉降速度很慢，對非球型粒子誤差大；由于密度一致性差，不適用于混合物料；重力沉降儀適用于10微米以上的粉體，如果顆粒很細則需要離心沉降。
3．庫爾特電阻法 原理：顆粒通過小孔時產生的電阻脈沖計數。優點：可以測定顆?？倲担刃Ц拍蠲鞔_；操作簡便。缺點：動態范圍小，1：20左右；對介質的電性能有嚴格要求；容易出現堵塞小孔現象。
4．顯微鏡法 原理：光學成像。優點：簡單直觀；可作形貌分析。缺點：動態范圍窄，1：20；測量時間長，約20分鐘；樣品制備操作較復雜；采樣的代表性差；對超細顆粒分散有一定的難度，受衍射極限的限制，無法檢測超細顆粒。
5．電鏡 原理：電子成像。優點：直觀；分辨率高。缺點：取樣量少，沒有代表性，樣品制備操作復雜；儀器價格昂貴。
6．激光粒度儀 原理：激光衍射／散射。優點：測量速度快，約1分鐘；動態范圍大，約1：1000以上；重復性好；準確度高，分辨率高；操作簡便；可對動態顆粒群進行跟蹤測試分析，是目前最先進的粒度儀，在很多場合可替代其他測量方法，是粒度儀發展的方向。
28
2025-11
顆粒測試技術方案和設備綜合服務商
COMPREHENSIVE SERVICE PROVIDER OF PARTICLE TESTING TECHNICAL SCHEME AND EQUIPMENT
查看詳情聯系信息
友情鏈接
