Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀

Winner601?納米粒度及電位分析儀是濟南微納顆粒儀器股份有限公司推出的新一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的動態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。 Winner601使用電泳光散射技術(shù)測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應用于各項試驗。

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納米粒度電位儀納米粒度及電位分析儀 zeta電位 Winner601

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納米粒度及電位儀

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Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀

產(chǎn)品簡介：

Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀是濟南微納顆粒儀器股份有限公司推出的新一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的動態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。

Winner601使用電泳光散射技術(shù)測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應用于各項試驗。

技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號	Winner601
執(zhí)行標準	GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 ；GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
測試范圍	1-10000nm（與樣品有關(guān)）		-500mV — +500mV
濃度范圍	0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關(guān))
電泳遷移率范圍	> ±20μm.cm/V.s
最高電導率	200mS/cm（取決于樣品）
準確度誤差	<1%（國家標準樣品D50值）		<15%（標準樣品）
重復性誤差	<1%（國家標準樣品D50值）		<15%（標準樣品）
激光光源	半導體激光器，λ= 635nm，P=1-40mw （可調(diào)）
探測器	光電倍增管PMT
散射角	90^o		18^o
樣品池體積	10mm10mm40mm, 1--4mL		10mm10mm60mm, 1mL
溫控范圍	5-45℃
溫控精度	0.1℃
測試速度	<5 Min
數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù)	規(guī)格型號	HA1024	HA1024
	自相關(guān)通道	892	892
	基線通道	4	-
	物理通道數(shù)	5000	-
	延遲時間	1µs-10ms（可調(diào)）	1µs-10ms（可調(diào)）
體積	560mm450mm300mm
重量	20Kg

產(chǎn)品特點和優(yōu)勢：

測試原理	采用電泳光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的電泳運動速度測定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運動的群體速度，激光照射這些顆粒，導致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。
超高速數(shù)據(jù)采集	本儀器的核心部件通過HA1024數(shù)字相關(guān)器，能實時完成電泳散射光強的采集和自相關(guān)函數(shù)運算，從而有效地反映顆粒的電泳運動速度的信息，為Zeta電位測試結(jié)果的準確性奠定基礎(chǔ)。
高靈敏度信噪比	采用專業(yè)級高性能光電倍增管，對光子信號具有極高的靈敏度和信噪比。
高精度恒溫控制	采用半導體溫控技術(shù)，溫控精度高達0.1℃,使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動變化導致的測試偏差，保證測試結(jié)果準確性及穩(wěn)定性。
穩(wěn)定的光路系統(tǒng)	采用光學移頻裝置與光纖耦合技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩(wěn)定性。

適用范圍：

Winner601 納米粒度及電位分析儀同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測量，能廣泛應用于精細化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測儀器。